9th ieee east-west design & test icon

9th ieee east-west design & test


Смотрите также:
«Oh, East is East, and West is West, and never the twain shall meet...
«East + West = Invest. Подготовка предприятий к процессу инвестирования»...
Российская федерация федеральная служба по интеллектуальной собственности...
Методика составления спецификаций требований к программному обеспечению...
Тематика лекций по дисциплине «Механика грунтов, основания и фундаменты»...
Методика выполнения работы открыть рабочее окно программы siso design...
Лекция: Беспроводная технология Wimax wimax очень перспективное направление в развитии...
Регламент открытого конкурса дизайнеров «Arlioni Design»...
"Corian® springs Russian design" Высокотехнологичн ые поверхности DuPont™ Corian® в...
Placement test...
Лекция №1 9
Лекция №1 10



Загрузка...
скачать



9th IEEE EAST-WEST DESIGN & TEST

SYMPOSIUM (EWDTS 2011)


Севастополь, Украина, 09-12 сентября 2011

Информационное письмо

Цель симпозиума IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS) ­– расширение международного сотрудничества и обмен опытом между ведущими учеными Западной и Восточной Европы, Северной Америки и других стран в области автоматизации проектирования, тестирования и верификации электронных компонентов и систем. Симпозиум проводится, как правило, в странах бассейнов Черного и Балтийского морей, Центральной Азии. Оргкомитет приглашает ученых, аспирантов и студентов принять участие в работе международного симпозиума EWDTS’11, в рамках которого будут рассматриваться научные работы по следующим тематическим направлениям:

  • Проектирование объектно-ориентированных систем

  • Тестирование в реальном времени

  • Потребление энергии при проектировании и тестировании

  • Встроенные системы реального времени

  • Надежность цифровых систем

  • Методы на основе сканирования данных

  • Самовосстановление и реконфигурируемые архитектуры

  • Обработка сигналов и информации в радиотехнике и технике связи

  • Моделирование и генерация тестов на системном уровне

  • Системы в пакетах кристаллов, трехмерное проектирование и тестирование

  • Использование UML для описания встроенных систем

  • САПР, методы и алгоритмы автоматизации

  • Инженерное проектирование и технологическая подготовка производства

  • Логический, схемотехнический и системный синтез

  • Проектирование топологии кристалла

  • Температурный, временной, электростатический анализ систем на кристалле и на плате

  • Синтез беспроводных и RFID систем

  • Цифровое спутниковое телевидение

  • Тестирование аналоговых, аналого-цифровых и радиочастотных устройств

  • Анализ и оптимизация проектов

  • Автоматическая генерация тестов и высоко-уровневое тестирование

  • Встроенное самотестирование

  • Отладка и диагностика проектов

  • Отказоустойчивость и надежность

  • Тестопригодное проектирование

  • Верификация и валидация проектов

  • Автоматизация проектирования и тестирования

  • Обеспечение высокого качества встроенного ПО

  • Анализ неисправностей, дефектов и отказов

  • Тестирование ПЛИС

  • Тестирование с использованием языков HDL

  • Высокоуровневый синтез

  • Высокопроизводительные системы и сети на кристаллах, проектирование и тестирование

  • Проектирование устройств с пониженным энерго-потреблением

  • Тестирование памяти и процессоров

  • Моделирование неисправностей

  • Моделирование и синтез встроенных систем





Председатели:

В. Хаханов – Украина

Е. Зориан – США

Сопредседатели

Е. Пашков – Украина

П. Принетто – Италия

^ Председатели программного комитета

С. Шукурян – Армения

Д. Сперанский – Россия

Сопредседатели программного комитета

З. Наваби – Иран

М. Реновелл – Франция

^ Председатели рекламного комитета

Р. Убар – Эстония

С. Мосин – Россия

Г. Маркосян – Армения

Председатель комитета по связям с общественностью

В. Джиган – Россия

^ Программный комитет

Е. Й. Аас – Норвегия

Д. Абрахам – США

M. Адамский – Польша

А. Баркалов – Польша

Р. Базилевич – Украина

В. Джиган – Россия

A. Дрозд – Украина

E. Евдокимов – Украина

A. Чатерджи – США

E. Граматова – Словакия

A. Иванов – Канада

M. Каравай – Россия

В. Харченко – Украина

К. Кучукян – Армения

В. Кузьмич – Польша

A. Матросова – Россия

В. Меликян – Армения

O. Новак – Чешская Респ.

З. Пенг – Швеция

A. Петренко – Украина

Д. Пузанков – Россия

Я. Райк – Эстония

A. Романкевич – Украина

A. Рыжов – Россия

Р. Шейнаускас – Литва

С. Шаршунов – Россия

A. Сингх – США

Ю. Скобцов – Украина

В. Твердохлебов – Россия

В. Варданян – Армения

В. Ярмолик – Белоруссия

^ Руководящий комитет

M. Бондаренко – Украина

В. Хаханов – Украина

Р. Убар – Эстония

Е. Зориан – США

Оргкомитет

Ю. Гимпилевич – Украина

E. Литвинова – Украина

С. Чумаченко – Украина


Симпозиум будет проходить в Севастополе – одном из прекраснейших городов Украины. Севастополь – порт, расположенный на берегу Черного моря, на юге Крымского полуострова. Город, известный как место дислокации Российского Черноморского Флота и Украинских военно-морских сил. Местом проведения EWDTS’11 является Севастопольский национальный технический университет.

^ Важные даты: Срок подачи докладов: 10 июня, 2011

Итоги рецензирования: 15 июля, 2011

Регистрация докладов: http://www.ewdtest.com/conf

Адрес оргкомитета: Проф. Владимир Хаханов, кафедра Автоматизации проектирования вычислительной техники Харьковского национального университета радиоэлектроники, пр. Ленина 14, Харьков, 61166, Украина.

Тел.: +380-57-702-13-26, E-mail: hahanov@kture.kharkov.ua, www.ewdtest.com/conf/

Симпозиум проводится Харьковским национальным университетом радиоэлектроники совместно с Севастопольским национальным техническим университетом при финансовой поддержке Таллиннского технологического университета (Эстония). Техническим спонсором EWDTS’11 является компьютерное сообщество IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (TTTC). Финансовую поддержку оказывают IT-компании Virage Logic, Aldec, Synopsys, Лаборатория Касперского, DataArt Lab, JTAG Technologies, Донецкая академия автодорожного транспорта. Лучшие работы, отмеченные на симпозиуме, будут опубликованы в научных журналах IEEE Design & Test Magazine and Radioelectronics and Informatics Journal (ISSN 1563-0064); последний издается при поддержке IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (TTTC).






Скачать 63,09 Kb.
оставить комментарий
Дата12.10.2011
Размер63,09 Kb.
ТипДокументы, Образовательные материалы
Добавить документ в свой блог или на сайт

Ваша оценка этого документа будет первой.
Ваша оценка:
Разместите кнопку на своём сайте или блоге:
rudocs.exdat.com

Загрузка...
База данных защищена авторским правом ©exdat 2000-2017
При копировании материала укажите ссылку
обратиться к администрации
Анализ
Справочники
Сценарии
Рефераты
Курсовые работы
Авторефераты
Программы
Методички
Документы
Понятия

опубликовать
Загрузка...
Документы

наверх