Утверждаю icon

Утверждаю


Загрузка...
скачать



Министерство образования Российской Федерации


Томский политехнический университет


___________________________________________________


УТВЕРЖДАЮ

Декан ЕНМФ, зав. кафедры ОФ

проф., д.ф.-м.н.

____________­_____И.П.Чернов


Контрольные вопросы и темы рефератов к семинарам


по дисциплине “Приборы и установки для анализа твердого тела”


Методические указания по проведению семинаров для студентов очного обучения по специальности 510400 “Физика конденсированного состояния ”


Томск 2009


УДК 543.53+539.106


Контрольные вопросы и темы рефератов к семинарам по дисциплине “ Приборы и установки для анализа твердого тела ”: Методические указания по проведению семинаров для студентов очного обучения по специальности 510400 “Физика конденсированного состояния ”. Томск: Изд.ТПУ, 2009.-26 с.


Составитель проф., д.ф.-м.н. Ю.П.Черданцев


Рецензент проф., д.ф.-м.н. Ю.Ю.Крючков


Методические указания рассмотрены и рекомендованы к изданию методическим семинаром кафедры общей физики ЕНМФ “__”_________2009 г.


Зав. кафедрой

Проф., д.ф.-м.н. ____________И.П.Чернов


Введение

Методические указания предназначены для обеспечения самостоятельной подготовки студентов специальности 510400 «Физика конденсированного состояния» к практическим занятиям (семинарам) по дисциплине «Приборы и установки для анализа твердого тела» и включают темы рефератов, вопросы к экзаменам и коллоквиумам, а также списки литературы для самостоятельной работы студентов. Методические указания являются дополнительным материалом к учебному пособию Ю.П.Черданцева «Электрофизические установки».


^ Цели и задачи учебной дисциплины

Целью изучения дисциплины является подготовка специалиста обладающего знаниями современного состояния физических основ методов анализа и установок, используемых для исследования элементного состава и структуры твердого тела. На базе полученных знаний, специалист должен уметь осуществить правильный выбор метода анализа и электрофизической установки, необходимой для решения конкретной аналитической задачи. Курс предназначен дать представление о метрологических характеристиках методов исследования твердого тела, основных элементах спектрометрических установок и устройств. Специалист должен знать и уметь использовать электронную аппаратуру, применяемую для автоматизации физического эксперимента, быть подготовлен к самостоятельному изучению оригинальных работ в данной области и выполнению технологических задач.

После изучения курса " Приборы и установки для анализа твердого тела " студент должен:

  1. Иметь представление о методах пучкового анализа материалов и физических основах действия установок для реализации этих методов.

  2. Овладеть приемами решения экспериментальных задач в области исследования состава и структуры материалов.

  3. Уметь выбрать аналитическую установку для решения конкретной задачи в области аналитического контроля материала.
^
Задача изучения дисциплины - получение теоретических и практических знаний и навыков, связанных с использованием методов анализа твердого тела.
В соответствии с рабочей программой дисциплины, вторая половина рабочего дня (3-4 часа) магистрантов посвящена самостоятельной работе. Индивидуальная работа проводится студентами по следующим направлениям:

1. ^ Выполнение индивидуальных заданий (работа в библиотеке). Индивидуальное задание заключается в написании студентами рефератов по темам, подобранным в соответствии с программой теоретической части курса. Индивидуальное задание должно быть выполнено и публично защищено в запланированное время (на семинарских занятиях). Темы рефератов и требования к оформлению рефератов, а также дополнительные вопросы к семинарским занятиям приведены в настоящих методических указаниях.

2. ^ Проработка теоретического материала (работа в библиотеке). Проработка вопросов теоретической части курса, вынесенных на самостоятельную работу. Подготовка к теоретическим коллоквиумам. Теоретический коллоквиум должен быть сдан в часы, предусмотренные календарным планом аудиторных занятий. Вопросы к теоретическому коллоквиму предлагаются студентам преподавателем за две три недели до срока сдачи.

3. ^ Решение задач, выносимых на самостоятельную проработку. Прежде всего, это решение задач с использованием вычислительной техники, изучение стандартных компьютерных программ, компьютерное моделирование. Выбор задач проводится преподавателем, ведущим курс.

^ Практическое знакомство с работой электрофизических установок проходит во время прохождения студентами УИРс и на экскурсиях, план посещения которых разрабатывается преподавателем. Сведения о работающих электрофизических установках приведены в Приложении 1.


^ Проведение практических занятий (семинаров) по курсу


Основной формой проведения занятий выбрана публичная защита рефератов и ответы на контрольные вопросы. Целью подготовки и защиты реферата является выработка навыков самостоятельной работы над теоретической литературой, умение логически и систематично представить заданную тему в рукописи, и публично изложить материал.

В начале занятия преподаватель объявляет тему и зачитывает порядок выступлений. Студенты представляют готовые рефераты преподавателю для проверки и излагают материал. После каждого выступления преподаватель проводит обсуждение данного раздела темы, делает необходимые замечания и дополнения к выступлению докладчика, задает контрольные вопросы.

Содержание реферата оценивается по рейтинговой системе. При оценке реферата в расчет принимается понимание студентом физических основ и принципов работы электрофизической установки, приборов и оборудования. Контроль этих знаний осуществляется при ответах студента на дополнительные вопросы, заданные преподавателем после выступления. Список контрольных вопросов к каждой теме приведен в соответствующих разделах методического указания. Требования к оформлению рефератов приведены в Приложении 2.


^ Теоретические коллоквиумы проводятся с целью проверки знаний по теоретической части курса. Коллоквиум проводится, как правило, по одному из разделов курса и оценивается либо по пятибалльной системе (с дальнейшим переводом в рейтинговую систему) либо по рейтинговой системе (максимальный балл за коллоквиум определяется объемом материала, включенного в коллоквиум). Вопросы теоретического коллоквиума выдаются студентам заранее. Независимо от способа оценки знаний коллоквиум должен быть сдан не менее чем на «удовлетворительно».


Экзамен проводится для проверки знаний в конце семестра по всему объему материалов курса. Оценка производится по пятибалльной системе. С экзаменационными вопросами студенты знакомятся заранее. Список экзаменационных билетов по курсу приводится в Приложении 3.

^ Темы рефератов, литература, дополнительные вопросы


Занятие 1.


Тема: Радиоактивные источники. Источники заряженных частиц. Ускорители.

Цель занятия: Знакомство с основными типами радиоактивных источников. Знакомство с ионными, гамма-, бета- источниками и ускорителями заряженных частиц.

Список рефератов по теме.

  1. Радиоактивные источники. Физические принципы. Практическое использование.

  2. Основные типы радиоактивных источников. Их характеристики и применение.

  3. Источники нейтронов. Физические принципы работы. Конструкция источников нейтронов.

  4. Нейтронный генератор.

  5. Ядерный реактор как источник нейтронов.

  6. Виды ионных источников.

  7. Источник Пеннинга.

  8. Электронная пушка.

  9. Источники рентгеновского излучения. Рентгеновский аппарат.

  10. Классификация ускорителей.

  11. Генератор Ван-де-Граафа.

  12. Высоковольтные ускорители (на примере пеллетрона, ладдетрона и тандемного генератора).

  13. Циклотон. Физические основы. Применение.

  14. Микротрон. Физические основы. Применение.

  15. Бетатрон. Физические основы. Применение.


Литература.

1. Лабораторный практикум по экспериментальным методам ядерной физики./ Под. Ред. К.Г. Финогенова. М.:Энергоатомиздат. 1986. С. 432.

2. Физический энциклопедический словарь. /Гл. ред. А.М.Прохоров. М.: Советская энциклопедия. 1983. С.928.

  1. Комар Е.Г. Основы ускорительной техники. М.:Энергоатомиздат. 1975. 378 с.

  2. Лебедев А.Н., Шальнов А.В. Основы физики и техники ускорителей. Ч.1.М.: Энергоатомиздат. 1981. 650 с.

  3. Абрамов А.И., Казанский Ю.А., Матусевич Е.С. Основы экспериментальных методов ядерной физики. М.: Атомиздат. 1985. 488 с.

  4. Электростатические ускорители заряженных частиц./Под ред. А.К.Вальтера. М.:Госатомиздат. 1963.

  5. Немец О.Ф., Гофман Ю.В. Справочник по ядерной физике. Наукова думка. 1975. 416 с.

6. Использование ускорителей в элементном анализе. /Сборник статей под ред. Таланина Ю.Н./ Ташкент. ФАН. 1980. 208 с.


Конторольные вопросы


  1. Устройство радиоактивных источников альфа- излучения.

  2. Каким образом можно провести калибровку энергетической шкалы спектрометра с помощью радиоактивного источника?

  3. Почему эталонные радиоактивные источники изготавливают в виде тонких пленок?

  4. Как использовать ускоритель электронов для получения нейтронов?

  5. Можно ли использовать пучки высокоэнергетических ионов для получения нейтронов?

  6. Опишите способы получения плазмы в ионных источниках.

  7. На какие энергии ионов рассчитаны источники Пеннинга?

  8. В каких областях науки и техники используются ионные, электронные и гамма-источники.

  9. Какие типы ионных источников используются в тандемном генераторе?

  10. Опишите принцип действия циклотрона и ЭСГ.

  11. Для чего в ускорителе используют электрические и магнитные поля?

  12. Как зависит скорость частицы от массы и ускоряющего напряжения в линейном высоковольтном ускорителе?

  13. Как зависит период обращения частицы в циклическом ускорителе от энергии и массы?

  14. Какие энергии и токи частиц можно получать в ионных и электронных ускорителях?



Занятие 2.


Тема: Детекторы, используемые в установках для пучкового анализа

Цель занятия: Знакомство с работой детекторов ионизирующего излучения

Список рефератов по теме.

  1. Ионизационная камера. Камера Вильсона.

  2. Сцинтилляционные детекторы.

  3. Фотоэлектронные умножители.

  4. Микроканальные детекторы.

  5. Полупроводниковые детекторы.

  6. Автоматизация спектрометрических установок.

  7. Стандарты КАМАК, ВЕКТОР, NIM в физических исследованиях.



Литература


  1. Прикладная ядерная спектроскопия. Сборник статей. Вып. 6. М.: Атомиздат. 1976. 320 c.

  2. Физический энциклопедический словарь. /Гл. ред. А.М.Прохоров. М.: Советская энциклопедия. 1983. 928 с.

  3. Абрамов А.И., Казанский Ю.А., Матусевич Е.С. Основы экспериментальных методов ядерной физики. М. Атомиздат. 1985. 488 с.

  4. Кунце Х.-И. Методы физических измерений. Пер. с нем. М.:Мир. 1989. 216 с.

  5. Полупроводниковые детекторы ядерных частиц и их применение./ Ред. Ю. К. Акимов, А. И. Калинин, В. Ф. Кушнирук, Х. Юнгклауссен. М. Атомиздат. 1967. 255 с.

  6. Певчев Ю.Ф. Финогенов К.Г. Автоматизация физического эксперимента. М.:Энергоатомиздат. 1986. 367 с.

  1. Немец О.Ф., Гофман Ю.В. Справочник по ядерной физике. Киев. Наукова думка. 1975. 416 с.

  2. Сохорева В.В., Черданцев Ю.П., Шадрин В.Н. Позиционно-чувствительный полупроводниковый Е- Е телескоп. Тезисы докладов 30 совещания по ядерной спектроскопии и струк­туре атомного ядра. 1980. С. 413.



Контрольные вопросы

  1. Как устроен трековый детектор?

  2. Опишите устройство сцинтилляционного детектора.

  3. Что такое временное разрешение детектора ионизирующего излучения?

  4. Почему с помощью полупроводникового и сцинтилляционного детекторов можно измерить энергию заряженной частицы?

  5. Чем отличается счетный режим детектора от спектрометрического?

  6. От чего зависит энергетическое разрешение полупроводникового и сцинтилляционного детекторов?

  7. Оцените зависимость числа регистрируемых детектором частиц от расстояния между детектором и точечным источником излучения.

  8. На каких физических процессах основан способ регистрации нейтронов ионизационной камерой?

  9. Как зависит эффективность регистрации газового детектора от типа газа и его давления?

  10. Почему для регистрации высокоэнергетических частиц используются полупроводниковые детекторы с большим объемом рабочей области?

  11. Перечислите преимущества и недостатки использования германиевого полупроводникового детектора по сравнению с кремниевым ППД?

  12. Почему ППД не могут работать после накопления критической дозы радиационных нарушений?

  13. От чего зависит коэффициент усиления ФЭУ?

  14. В чем преимущество использования пластиковых сцинтилляторов?

  15. Для работы каких детекторов требуется охлаждение жидким азотом?

  16. Какие сменные модули системы КАМАК Вы знаете?

  17. В каких областях науки и техники используются микроканальные детекторы?


Занятие 3.

Тема: Установки для реализации методов резерфордовского обратного рассеяния и метода ядер отдачи.

^ Цель занятия: знакомство с принципами работы установок для реализации методов резерфордовского обратного рассеяния и метода ядер отдачи.


Список рефератов по теме.

  1. Ядерно-физические методы анализа. Обзор.

  2. Способы идентификации заряженных частиц. Классический двумер. Времяпролетная методика измерений.

  3. Физические основы метода РОР и РЕЗор.

  4. Спектрометрия РОР. Примеры установок для элементного анализа методом РОР.

  5. Спектрометр РОР. Формирование энергетического спектра РОР.

  6. Физические основы метода ядер отдачи.

  7. Спектрометрия ядер отдачи. Установки для реализации метода ЯО.


Литература

  1. Петров Н.Н., Аброян И.А. Диагностика поверхности с помощью ионных пучков. Л.: ЛГУ. 1977. С. 160.

  2. Рязанов М.И., Тилинин И.С. Исследование поверхности по обратному рассеянию частиц. М.: Энергоатомиздат, 1986. 150 с.

  3. Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. М.: Мир, 1989. 568 с.

  4. Муминов В.А. Мухамедов С. Ядерно-физические методы анализа газов в конденсированных средах. Ташкент.:ФАН. 1977. 208 с.

  5. Чернов И.П., Шадрин В.Н. Анализ содержания водорода и гелия методом ядер отдачи. М.: Энергоатомиздат. 1988. 128 с.

  6. Крючков Ю.Ю., Чернов И.П. Основы ядерного анализа твердого тела. М.: Энергоатомиздат. 1999. 350 с.

  7. Крючков Ю.Ю., Чернов И.П. Методы мгновенного ядерного микроанализа. Итоги науки и техники. Сер. Пучки заряженных частиц и твердое тело. Т.2. М.ВИНИТИ.1990. С.74-150.

  8. Чернов И.П., Шадрин В.Н., Черданцев Ю.П. Использование метода ядер отдачи для исследования поведения примесей водорода и гелия при последовательной имплантации. Материалы 15 Всесоюзного совещания по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами. М.: МГУ. 1986. С. 150-152.

  9. Чернов И. П., Ятис А. А. , Черданцев Ю.П. Перспективы использования ионных пучков Р-7 (У-120М) в элементном анализе. Труды 10-го Всесоюзного совещания по ускорителям заряженных частиц.. 1987 Т. 1-2. С. 136-140.


Дополнительные вопросы.

  1. Перечислите основные элементы установки для реализации метода резерфордовского обратного рассеяния.

  2. Какие типы ионов используются для исследования методом РОР?

  3. На каких ускорителях заряженных частиц можно реализовать метод резерфордовского обратного рассеяния?

  4. В каких областях науки и техники используются результаты исследований методом РОР?

  5. Чем определяется разрешение метода РОР?

  6. Что такое кинематический коэффициент?

  7. Как дифференциальное сечение резерфордовского рассеяния зависит от угла регистрации рассеянных ионов?

  8. Каким образом определить глубину залегания примеси методом РОР?

  9. Как определить толщину пленки методом РОР?

  10. Что такое относительные и абсолютные измерения?

  11. Как осуществляется мониторирование пучка в установках РОР?

  12. Как устроен цилиндр Фарадея?

  13. Как выглядит геометрия эксперимента (положение исследуемого образца и детектора относительно анализирующего ионного пучка в методе РОР и методе ядер отдачи)?

  14. Как влияет шероховатость поверхности образца при исследовании методом ядер отдачи на энергетический спектр ЯО?

  15. Какие устройства располагаются в рабочей вакуумной камере (камере рассеяния) в установке для исследования методом РОР и ЯО?

  16. Какие элементы можно анализировать методом РОР и методом ядер отдачи?

  17. Приведите пример результатов профилирования легкой примеси при исследовании методом ЯО.

  18. Запишите формулу для определения энергии ядра отдачи.

  19. От чего зависит энергетическое разрешение методов РОР и ЯО?

  20. Опишите возможности установки для исследования накопления водорода и гелия в материалах термоядерного реактора.

  21. Перечислите электронное оборудование, входящее в спектрометры, используемые в установках для реализации методов РОР и ЯО.

  22. Опишите используемые способы идентификации заряженных частиц ( использование поглотителя, Е-Е – идентификация, использование времяпролетной методики).

  23. Что такое двумерный энергетический спектр?


Занятие 4

Тема: Установки для реализации метода каналирования заряженных частиц.

^ Цель занятия: знакомство с принципами работы и типами установок для исследования каналирования.


Рефераты по теме

  1. Физические основы спектрометрии рассеянных быстрых ионов в монокристаллах при каналировании.

  2. Ориентация монокристаллов. Гониометрические устройства.

  3. Установки для изучения каналирования заряженных частиц.

  4. Ионные источники и спектрометры для исследования каналированных частиц в кристаллах.

  5. Установки для определения дефектности методом каналирования и примеры исследований.

  6. Возможность использования каналирования для определения местоположения примесных атомов и установки для реализации метода.


Литература

  1. Петров Н.Н., Аброян И.А. Диагностика поверхности с помощью ионных пучков. Л.: ЛГУ. 1977. С. 160.

  2. Крючков Ю.Ю., Чернов И.П. Основы ядерного анализа твердого тела. М.: Энергоатомиздат. 1999. 350 с.

  3. Крючков Ю.Ю., Чернов И.П. Методы мгновенного ядерного микроанализа. Итоги науки и техники. Сер. Пучки заряженных частиц и твердое тело. Т.2. М.ВИНИТИ.1990. С.74-150.

  4. Линхард И. Влияние кристаллической решетки на движение быстрых заряженных частиц. УФН. 1969.Т.99. С.249-296.

  5. Шипатов Э.Т. Каналирование ионов. Ростов на Дону:Изд-во Ростовского ун-та.1986. 80 с.


Дополнительные вопросы


  1. Перечислите основные элементы установки для исследования каналирования быстрых ионов.

  2. Опишите устройство и работу гониометра.

  3. Как провести ориентацию мишени относительно ионного пучка с помощью гониометра?

  4. Что такое критический угол каналирования?

  5. Почему в энергетическом спектре рассеянных частиц, измеренном в режиме каналирования, наблюдаются пики соответствующие дефектным областям кристалла?

  6. Какие типы дефектов можно исследовать методом каналирования.

  7. Какие типы детекторов используются в установках для реализации метода каналирования?

  8. Опишите устройство вакуумной камеры для исследований каналирования?

  9. Приведите примеры использования результатов изучения дефектности в технике.


Занятие 5.

Тема: Вторичная ионная масс-спектроскопия.

Цель занятия: знакомство с физическими основами и установками ВИМС.


Рефераты по теме.

  1. Физические основы метода ВИМС.

  2. Техника анализа методом ВИМС.

  3. Промышленные установки для реализации метода ВИМС.

  4. Ионные источники, используемые в установках ВИМС.

  5. Типы спектрометров, используемых в установках ВИМС.

  6. Количественный и послойный анализ методом ВИМС.

  7. Энергетический спектр ВИМС.


Литература

  1. Методы анализа поверхности / Под ред. А. Зандерны. М.: Мир, 1979. 582 с.

  2. Петров Н.Н., Аброян И.А. Диагностика поверхности с помощью ионных пучков. Л.: ЛГУ. 1977. С. 160.

  3. Буханов В.И. и др. Масс-спектрометрическое исследование ион-ионной эмиссии некоторых твердых тел. В кн. Второй Всесоюзный симпозиум по взаимодействию атомных частиц с твердым телом. М.1972. С.146-149.

  4. Векслер В.И. Вторичная эмиссия атомных частиц. Ташкент. 1970. 244 с.

  5. Векслер В.И. Вторичная эмиссия атомных частиц при бомбардировке металлов положительными ионами малых и средних энергий. М.:Наука. 1978. 300 с.

  6. Черепин В. Т., Васильев М.А. Вторичная ионная эмиссия металлов. Киев.:Наукова Думка. 1975. 156 с.

  7. Каминский М. Атомные и ионные столкновения на поверхности металла. М.:Мир. 1967. 250 с.



Занятие 6.

Тема: Установки для исследования материалов методами электронной оже- спектроскопии и характеристического рентгеновского излучения.

^ Цель занятия: Знакомство с принципами работы установок для исследования материалов методом электронной оже- спектроскопии и методом характеристического рентгеновского излучения.


Темы рефератов.

  1. Физические основы метода оже- спектроскопии.

  2. Формирование оже- спектра.

  3. Типы и особенности оже- спектрометров.

  4. Формирование оже- спектра.

  5. Промышленные оже- спектрометры.

  6. Физические основы метода ХРИ.

  7. Техника исследования и особенности ХРИ возбуждаемого пучками электронов, ионов или гамма- квантов.

  8. Установки для реализации метода ХРИ.

  9. Техника исследования и примеры элементного анализа проведенного методом ХРИ.



Литература

1. Прикладная ядерная спектроскопия. Сборник статей. Вып. 6. М.: Атомиздат. 1976. 320 c.

2. Нефедов В.И. Рентгено-электронная спектроскопия химических соединений. М.: Химия. 1984. 255 c.

3. Физический энциклопедический словарь. /Гл. ред. А.М.Прохоров. М.: Советская энциклопедия. 1983. 928 с.

  1. Методы анализа поверхности / Под ред. А. Зандерны. М.: Мир, 1979. 582 с.

  2. Петров Н.Н., Аброян И.А. Диагностика поверхности с помощью ионных пучков. Л.: ЛГУ. 1977. С. 160.

  3. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бригса, М. Сиха. М.: Мир, 1987. 598 с.

  1. Черепин В.Т., Васильев М.А. Методы и приборы для анализа поверхности материалов. Киев: Наукова думка, 1982.

  2. Карлсон Т.А. Фотоэлектронная и оже-спектроскопия. М.: Машиностроение, 1981.

  3. Парилис Э.С. Эффект Оже. Ташкент. 1969. 212 с.


Дополнительные вопросы


  1. Какие элементы можно регистрировать методом характеристического рентгеновского излучения? Почему метод ХРИ не используется для анализа примеси водорода?

  2. Какие частицы можно использовать для реализации метода ХРИ и метода оже-спектроскопии.

  3. Достоинства и недостатки использования ионных пучков в методе ХРИ.

  4. Диапазон энергий пучков ионов, используемых в методе регистрации ХРИ.

  5. Какие устройства размещены в вакуумной камере для регистрации ХРИ. Какая электронная аппаратура используется для реализации метода?

  6. Нарисуйте принципиальную схему оже-спектрометра. Укажите основные элементы спектрометра.

  7. Какие типы детекторов используют для регистрации оже-спектров?

  8. Кратко опишите энергетический спектр оже- электронов.

  9. Назовите области техники в которых используются результаты исследований методами ХРИ и оже-спектрометрии. Приведите примеры использования.

  10. Какова глубина анализируемого слоя образца в методе электронной оже-спектрометрии. Для чего используется послойный анализ?



Занятие 7.

Тема: Метод электрон-позитронной аннигиляции. Электронная и ионная микроскопия.

^ Цель занятия: Изучение физических принципов и техники исследования материалов метода ЭПА. Изучение устройства и принципов работы электронных и ионных микроскопов.


Темы рефератов

  1. Физические основы методов ЭПА.

  2. Источники и ускорители позитронов.

  3. Установки для измерения времени жизни позитронов. Примеры исследований дефектности.

  4. Физические основы метода и установки для измерения доплеровского уширения аннигиляционной линии.

  5. Методика и установки для наблюдения угловой корреляции аннигиляционных квантов двухфононного распада.

  6. Оптический и электронный микроскопы. Физические основы, характеристики, сравнение.

  7. Просвечивающий электронный микроскоп.

  8. Растровый микроскоп.

  9. Полевой ионный микроскоп.


Литература


  1. У.А.Арифов, П.У.Арифов. Физика медленных позитронов. Фан.УССР. Ташкент.1971. 244 с.

  2. Позитронсодержащие системы и позитронная диагностика. /Под ред. .А.Арифова. Изд-во ФАН. УССР. Ташкент. 1975. 200 с.

  3. Прикладная ядерная спектроскопия. Сборник статей. Вып. 6. М.: Атомиздат. 1976. 320 c.

  4. Практикум по коллоидной химии и электронной микроскопии./Под ред. С.С. Воюцкого. М.:Химия. 1974. 224 с.

  5. Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия. Пер. с англ. М.1974. 258 с.

  6. Практическая растровая электронная микроскопия. /Под ред. Д. Гоудстейна. Пер. с англ. М. 1978. 350 с.

  7. Физический энциклопедический словарь. /Гл. ред. А.М.Прохоров. М.: Советская энциклопедия. 1983. 928 с.

  8. Методы анализа поверхности / Под ред. А. Зандерны. М.: Мир, 1979. 582 с.

  9. И.П. Чернов, Ю.П. Черданцев, А.М. Лидер, Г.В. Гаранин, Н.Н. Никитенков, М. Кренинг, А.С. Сурков. Дефекты в титане инициированные водородом (измеренные методом электрон-позитронной аннигиляции).// Физическая мезомеханика, 2001. Т. 3, №6, С. 97-103.



Дополнительные вопросы




  1. Перечислите элементы установки для измерения времени жизни позитронов.

  2. Назовите основные методы исследования электрон-позитронной аннигиляции.

  3. Как зависит время жизни позитрона от наличия дефектов в кристалле?

  4. Опишите устройство комбинированной установки для исследования ЭПА.

  5. Какие радиоактивные изотопы используются в установках для исследования ЭПА?

  6. Опишите типы детекторов, используемых в установках для исследования ЭПА?

  7. Приведите примеры изучения дефектности методом электрон-позитронной аннигиляции.

  8. Нарисуйте схему позитронного ускорителя.



^

Приложение 1.




Общие требования к рефератам


Содержание реферата должно точно соответствовать заданной теме. Студент в тексте реферата должен выделить следующие разделы.

  1. Введение. Во введении приводятся основные положения реферата. Приводятся исторические справки. Указываются цели и задачи выполняемой работы.

  2. Основная часть. Разбивается на подразделы, в которых приводятся основные характеристики физические процессов и явлений, на которых основана работа рассматриваемых электрофизических установок. Приводятся схемы установок с подробным описанием составных элементов и основные технические характеристики установок. Приводятся результаты измерений проводимых на описанной установке.

  3. Заключение. Показывается практическая значимость исследований проводимых на описанной электрофизической установке и перспективы ее дальнейшего использования.

  4. Список использованной литературы.

  5. Оглавление.



^

Требования к оформлению рефератов


Пример оформления титульного листа реферата приведен в Приложении 2. Объем реферата согласуется с преподавателем. Текст реферата должен быть представлен в виде рукописи или машинописной твердой копии (размер шрифта не менее 12 pt) на листах формата А4.

Приложение 2.



Пример заполнения титульного листа реферата



Министерство образования РФ

ТОМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ


^

Факультет естественных наук и математики



Кафедра общей физики

ЦИКЛОТРОН


Реферат по курсу " Приборы и установки для анализа твердого тела "

Выполнил:


Студент гр._______ЕНМФ И.И.Иванов


Проверил:

Профессор ______Ю.П.Черданцев




Томск – 2009





Приложение 3.


Комплект экзаменационных билетов по дисциплине “Электрофизические установки”


Билет №1

1. Физические основы методов ЭПА. Примеры установок для исследования электрон - позитронной аннигиляции.

  1. Радиоактивные источники (альфа- , бета-, гамма-источники). Радиоактивные элементы используемые в р/а источниках. Конструкция. Примеры использования в электрофизических установках.

Билет №2

1. Спектометрическая аппаратура для реализации РОР. Формирование энергетического спектра РОР. Примеры исследования тонких пленок.

2. Использование ядерного реактора в качестве источника нейтронов. Спектрометрия и энергетические спектры реакторных нейтронов.

Билет №3

  1. Примеры использования ионных источников в научных исследованиях и технике. Использование ионных источников в электрофизических установках.

2. Растровый электронный микроскоп. Просвечивающий электронный микроскоп. Физические основы, конструкция.

Билет №4

  1. Источники Пеннинга. Конструкция. Принцип работы. Использование.

  2. Использование ионизационной камеры в пучковом анализе материалов. Принцип работы. Конструкция.

Билет №5


1. Экспериментальная установка для исследования вещества методом РОР.

2. Высокочастотный ионный источник. Конструкция. Принцип работы. Использование.

Билет№6


1. Принцип действия и типы электростатических генераторов. Аналитические установки на базе ЭСГ.

2. Источник Пеннинга с холодным катодом. Конструкция. Принцип работы. Использование.
Билет №7

  1. Основы элементного анализа материалов. Первичный и вторичный пучки. Основные элементы установок для пучкового анализа. Примеры.

2. Источник Пеннинга с горячим катодом. Конструкция. Принцип работы. Использование.
Билет №8

1. Масс-спектрометры и микроанализаторы использующие физические принципы ВИМС.

  1. Источник с электронным ударом. Конструкция. Принцип работы. Использование.

Билет №9


1. Конструкция установки для измерения доплеровского уширения аннигиляционной линии. Физические основы и основные технические параметры.

2. Магнетронный источник. Конструкция. Принцип работы. Использование.
^

Билет №10


  1. Классификация ускорителей (по типу ионов, по траектории частиц и др.). Типы ускорителей.

  2. Плазмотронный источник. Конструкция. Принцип работы. Использование.
^

Билет №11


  1. Ускоритель типа пеллетрон. Устройство. Примеры использования для аналитических целей.

  2. Электронные источники (электронные пушки). Конструкция. Принцип работы. Использование.
^

Билет №12


1. Сцинтилляционные детекторы. Фотоэлектронный умножитель. Принцип действия, конструкция.

  1. Источники рентгеновского излучения. Рентгеновский аппарат. Рентгеновская трубка. Конструкция. Принцип работы.
^

Билет №13


1. Микроканальный детектор. Принцип действия, конструкция. Примеры использования.

2. Принцип работы и устройство высоковольтных ускорителей.
^

Билет №14


  1. Принцип действия, устройство и применение тандемного генератора. Тандемный генератор в пучковом анализе.

  2. ФЭУ на микроканальной пластине. Принцип действия, конструкция. Примеры использования.
^

Билет №15


  1. Двойной тандем. Принцип действия, устройство и применение двойного тандемного генератора в аналитических целях.

  2. Системы автоматизации экспериментальных исследований. Система КАМАК. Техническое обеспечение пучкового эксперимента современной регистрирующей аппаратурой.
^

Билет №16


  1. Циклотрон. Принцип действия и использование в качестве источника ионов в элементном анализе.

  2. Типы полупроводниковых детекторов. Полупроводниковые детекторы в установках для элементного анализа.
^

Билет №17


1. Метод резерфордовского обратного рассеяния.

Физические основы метода РОР. Сечение. Тормозная способность ионов.

2. Установка для исследования дефектности монокристаллов методом каналирования заряженных частиц. Геометрия эксперимента. Схема экспериментальной установки.
^

Билет №18


1. Экспериментальная установка для исследования каналирования. Основные элементы установки. Технические характеристики.

2. Метод резонансного обратного рассеяния.

Физические основы метода РезОР. Примеры использования. Установки для реализации метода.
^

Билет №19


  1. Каналирование. Физические основы спектрометрии рассеяния быстрых ионов в монокристаллах. Примеры использования.

2. Конструкция комбинированной установки для реализации методов исследования электрон-позитронной аннигиляции. Физические основы и основные технические параметры.
^

Билет №20


  1. Конструкции гониометров. Методика ориентирования кристаллических образцов при каналировании.

  2. Характеристика современной лаборатории пучковых исследований и радиационной модификации свойств материалов.
^

Билет №21


1. Физические основы каналирования. Гониометрические устройства, используемые для ориентации мишени в установках для исследования каналирования.

2. Экспериментальный исследовательский комплекс для изучения динамики поведения легких примесей методом ядер отдачи. Назначение и возможности комплекса. Экспериментальное оборудование входящее в состав комплекса.

^

Билет №22


  1. Физические основы и аналитические характеристики метода ядер. Основные элементы установки для измерения энергетических спектров ядер отдачи.

  2. Конструкция установки для измерения времени жизни позитронов.
^

Билет №23


1. Конструкция установки для наблюдения угловой корреляции аннигиляционных квантов двухфононного распада. Физические основы и основные технические параметры.

2. Особенности спектрометрии ядер отдачи. Способы идентификации ядер отдачи. Использование тонких поглотителей, Е-Е – идентификация, времяпролетная методика.
^

Билет №24


  1. Создание и применение управляемых потоков позитронов.

  2. Установки для реализации метода регистрации характеристического рентгеновского излучения (ХРИ)
^

Билет №25


  1. Физические основы метода ХРИ. Примеры использования ХРИ в элементном анализе.

  2. Конструктивные особенности и основные характеристики полевого ионного микроскопа. Детекторы, используемые в полевых ионных микроскопах. Генераторы импульсов.
^

Билет №26


  1. Растровый электронный Оже-спектрометр. Примеры применения. Аналитические установки на базе оже- спектрометра.

Идентификация ионов по массе. Конструкция времяпролетного атомного зонда.


Билет №27

  1. Особенности регистрации ХРИ, возбуждаемого пучками электронов и гамма-квантов.

  2. Описание установок ВИМС. Установки со сканирующим ионным зондом, позволяющие получать сведения о распределении элемента по поверхности.

Билет№28


  1. Экспериментальная установка для исследования элементного состава методом ХРИ возбуждаемого ионным пучком.

  2. Растровый электронный Оже-спектрометр. Примеры применения. Аналитические установки на базе оже- спектрометра.
^

Билет №29


  1. Установки для исследования состава вещества методом электронной оже-спектроскопии.

  2. Описание установок ВИМС. Установки с прямым изображением.
^

Билет №30


  1. Физические основы метода оже-спектроскопии. Примеры использования метода в науке и технике.

  2. Установки для исследования поверхности вещества методом вторичной ионной масс-спектроскопии (ВИМС).
^

Билет №31


  1. Оже-спектрометр с анализатором типа цилиндрического зеркала. Формирование Оже-спектров.

  2. Физические основы метода ВИМС Техника и методика анализа методом ВИМС.



^

Билет №32


  1. Электронный микроскоп. Физические основы работы. Разрешающая способность и увеличение.

  2. Радиоактивные источники (альфа- , бета-, гамма-источники). Радиоактивные элементы используемые в р/а источниках. Конструкция. Примеры использования в электрофизических установках.
^

Билет №33


  1. Классификация и типы электронных микроскопов.

  2. Ионный источник с электронным ударом. Конструкция. Принцип работы. Использование.
^

Билет №34


  1. Просвечивающий электронный микроскоп. Физические основы, конструкция.

  2. Масс-спектрометры и микроанализаторы, использующие физические принципы ВИМС.

Билет №35

  1. Просвечивающий растровый электронный микроскоп. Просвечивающий электронный микроскоп. Физические основы, конструкция.

  2. Ускоритель типа пеллетрон. Устройство. Примеры использования для аналитических целей.
^

Билет №36


  1. Полевой ионный микроскоп с атомным зондом. Просвечивающий электронный микроскоп. Физические основы, конструкция.

  2. Экспериментальная установка для исследования каналирования. Основные элементы установки. Технические характеристики.



Оглавление







Введение. Цели и задачи учебной дисциплины……………………..


3

Темы рефератов, литература, дополнительные вопросы…………….

3

Занятие 1. Радиоактивные источники. Источники заряженных частиц. Ускорители…………………………………………………….


5

Занятие 2 Детекторы используемые в установках для пучкового анализа…………………………………………………………………..


7

Занятие 3 Установки для реализации методов резерфордовского обратного рассеяния и метода ядер отдачи…………………………...


9

Занятие 4. Установки для реализации метода каналирования заряженных частиц……………………………………………………..


11

Занятие 5. Вторичная ионная масс-спектроскопия.

12

Занятие 6. Установки для исследования материалов методами электронной оже- спектроскопии и характеристического рентгеновского излучения……………………………………………..



13

Занятие 7. Метод электрон-позитронной аннигиляции. Электронная и ионная микроскопия………………………………….


14

Приложение 1. Общие требования к рефератам……………………...

16

Приложение 2. Пример заполнения титульного листа реферата……

17

Приложение 3. Комплект экзаменационных билетов по дисциплине “Электрофизические установки”……………………….


18

Оглавление

23



Контрольные вопросы и темы рефератов к семинарам


по дисциплине “ Приборы и установки для анализа твердого тела ”


Методические указания




Составитель Черданцев Юрий Петрович




Подписано к печати

Формат 60х84/16. Бумага писчая N2.

Плоская печать. Усл.печ.л. Уч.-изд.л.

Тираж экз. Заказ . Цена С.

ИПФ ТПУ. Лицензия ЛТ N 1 от 18.07.94.

Ротапринт ТПУ. 634034, Томск, пр. Ленина, 30





Скачать 257,51 Kb.
оставить комментарий
Ю.П.Черданцев
Дата29.09.2011
Размер257,51 Kb.
ТипКонтрольные вопросы, Образовательные материалы
Добавить документ в свой блог или на сайт

Ваша оценка этого документа будет первой.
Ваша оценка:
Разместите кнопку на своём сайте или блоге:
rudocs.exdat.com

Загрузка...
База данных защищена авторским правом ©exdat 2000-2017
При копировании материала укажите ссылку
обратиться к администрации
Анализ
Справочники
Сценарии
Рефераты
Курсовые работы
Авторефераты
Программы
Методички
Документы
Понятия

опубликовать
Загрузка...
Документы

наверх