Рабочая программа дисциплины б 15 Проектирование оптических и оптико-электронных приборов icon

Рабочая программа дисциплины б 15 Проектирование оптических и оптико-электронных приборов


Смотрите также:
Примерная программа дисциплины сд. Ф...
Основная образовательная программа высшего профессионального образования направление подготовки...
Оптико-электронные приборы...
Разработка и исследование оптико-электронных систем кругового обзора с дискретным фасеточным...
Учебно-методический комплекс Дисциплины «Компьютерное моделирование и проектирование электронных...
Учебный план по направлению: 200400. 62 Оптотехника Наименование дисциплин, модулей...
Примерная программа дисциплины сд. Ф. 06 "Сборка...
Рабочая программа дисциплины «Дополнительные главы физики твердого тела»...
Мирошников М. М. Теоретические основы оптико-электронных приборов...
Техническое задание спроектировать привод механизма горизонтального обзора сканирующей...
Учебная программа дисциплины дисциплина Экология...
Российская федерация федеральная служба по интеллектуальной собственности...



Загрузка...
скачать
Министерство образования и науки Российской Федерации

Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования

Московский государственный университет геодезии и картографии (МИИГАиК)

Утверждаю


Ректор МИИГАиК

Малинников В.А.


«……» _______________


РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ

Б.3.15 Проектирование оптических и оптико-электронных приборов

^ Направление подготовки




200400.62-Оптотехника

Профиль подготовки:

Оптико-электронные информационно-измерительные и следящие приборы и системы







^ Квалификация (степень) выпускника: бакалавр

Факультет




Оптико-информационных систем и технологий

^ Кафедры потребители: кафедра прикладной оптики, кафедра конструирования и технологии оптических приборов

Кафедра-разработчик рабочей программы: кафедра оптико-электронных

приборов

Кафедра-разработчик рабочей программы_________________________________

(название)




Семестр

Общий объем курса, час.

Лекций,

час.

Практичес занятий,

час.

Лаборат. работ,

час.

СРС,

час.

Форма контроля

Экз./зачет

6-7

216

68

34

34

80

Зач., экз.



Москва 2011 г.

Аннотация рабочей программы

При изучении дисциплины рассматриваются:

-основные энергетические и фотометрические параметры и единицы;

-основные типы естественных источников излучения и промышленно выпускаемых источников оптического диапазона спектра;

-основные типы приемников оптического излучения, их основные параметры и характеристики;

-методы и аппаратура для определения основных параметров и характеристик источников и приемников оптического излучения;

-методы выбора источников и приемников излучения для включения их в состав оптико-электронных приборов и систем.-


^ 1.ЦЕЛИ ОСВОЕНИЯ ДИСЦИПЛИНЫ

Б.3.15 Проектирование оптических и оптико-электронных приборов

Целями освоения дисциплины «Источники и приемники оптического излучения»

являются формирование профессиональных компетенций в области оптико-электронного приборостроения, умение выбирать эти элементы при проектировании современных оптико-электронных приборов и систем, а также рассчитывать и определять экспериментально важнейшие параметры и характеристики источников и приемников оптического излучения

2.МЕСТО ДИСЦИПЛИНЫ Б.3.15 Проектирование оптических и оптико-электронных приборов

в ^ СТРУКТУРЕ ООП ВПО

Данная учебная дисциплина входит в раздел «Б.3. Профессиональный цикл» по направлению подготовки 200400.62-Оптотехника. Ей предшествует изучение дисциплин Б.2.2 «Физика», Б.2.7 «Специальные разделы физики», Б.2.11.»Основы оптики», Б.3.7 «Электроника и микропроцессорная техника». Требования к «входным» знаниям, умениям и готовностям обучающегося, необходимым при освоении данной дисциплины и приобретенным в результате освоения перечисленных дисциплин содержатся в Основной образовательной программе подготовки бакалавра по направлению 200400.62-Оптотехника.

На изучении данной дисциплины, как «предшествующей», базируются дисциплины Б.3.10 «Оптико-электронные приборы и системы», Б.3.15 «Проектирование оптико-электронных приборов», Б.3.16 «Сборка и юстировка оптико-электронных приборов», Б.3.19 «Геодезические измерения», Б.3.20 «Лазеры», Б.3.25б «Оптико-электронные следящие системы», Б.3.26б «Тепловизионные системы», а также программа производственной практики и подготовка выпускной работы..


^ 3.КОМПЕТЕНЦИИ ОБУЧАЮЩЕГОСЯ, ФОРМИРУЕМЫЕ В РЕЗУЛЬТАТЕ ОСВОЕНИЯ ДИСЦИПЛИНЫ Б.3.15 Проектирование оптических и оптико-электронных приборов

В результате освоения дисциплины обучающийся должен:

знать:

-основные виды источников и приёмников оптического излучения и их основные параметры и характеристики (ПК-1, ПК-2, ПК-18);

уметь:

- осуществлять корректный выбор источников и приёмников оптического излучения для работы в составе конкретной оптико-электронной системы (ПК-2, ПК-7, ПК-18);

владеть:

- навыками работы при измерении параметров и определении характеристик источников и приёмников оптического излучения (ПК-11, ПК-13).

[Примечание: В данном пункте рабочей программы дисциплины (модуля) рекомендуется раскрыть ожидаемые результаты освоения дисциплины во взаимосвязи с компетентностной моделью выпускника.]


^ 4.СТРУКТУРА И СОДЕРЖАНИЕ ДИСЦИПЛИНЫ Б.3.15 Проектирование оптических и оптико-электронных приборов

  1. Общая трудоемкость дисциплины составляет 4 зачетных единицы, 144 часа.



п/п

Семестр

Номер недели

Раздел
дисциплины

Виды учебной работы, включая самостоятельную работу студентов
и трудоемкость (в часах)

Формы текущего контроля успеваемости (по неделям семестра)

Форма промежуточной аттестации

(по семестрам)

Лекции

Практ.

СеминарКолокв

Лаб. раб

Курсов.

проект/

реферат

СРС

1




























2




























3




























^ Высшее учебное заведение может устанавливать другие виды учебных занятий.

[Примечание: В данном пункте программы (или в приложении, поддерживающем данный пункт программы) рекомендуется разместить матрицу соотнесения тем/разделов учебной дисциплины/модуля и формируемых в них профессиональных и общекультурных компетенций.



  • Ттемы,
    разделы
    дисциплины


  • Кколичество
    часов


  • Ккомпетенции

  • 1

  • 2

  • 3

  • 4

  • 5

  • 6

  • 7

  • 8

  • 9

  • 10

  • n

  • Σ

  • ообщее количество компетенций

  • Рраздел 1



























  • Ттема 1



























  • Ттема 2



























  • и т.д.





























  • Иитого



























Сумма компетенций и их элементов, предлагаемых к формированию по каждой теме/разделу, и соотнесенная с часами на изучение данной темы/раздела, позволяет оценить реальность формирования компетенций и скорректировать распределение часов.]


^ 5.ОБРАЗОВАТЕЛЬНЫЕ ТЕХНОЛОГИИ

В учебном процессе используются компьютерные программы «КОМОС», разработанные в МИИГАиК для расчета параметров оптико-электронных систем, а также для параметрического и структурного анализа этих систем. При проведении практикума проводится еженедельный опрос (тестирование) по тематике текущих занятий с контролем усвоения соответствующего лекционного материала. Программа тестирования сообщается студентам, что позволяет им самостоятельно и постоянно проводить самоконтроль.


6.ОЦЕНОЧНЫЕ СРЕДСТВА ДЛЯ ТЕКУЩЕГО КОНТРОЛЯ УСПЕВАЕМОСТИ, ПРОМЕЖУТОЧНОЙ АТТЕСТАЦИИ ПО ИТОГАМ ОСВОЕНИЯ ДИСЦИПЛИНЫ И УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ САМОСТОЯТЕЛЬНОЙ РАБОТЫ СТУДЕНТОВ


Вид работы

^ Тема работы

(эссе, реферат,

курсовой проект и др.)

Перечень ЗУН, получаемых студентом при выполнении данного вида работы



















Приложение

Контрольные вопросы и задания для проведения текущего контроля и промежуточной аттестации по итогам освоения дисциплины, а также для контроля самостоятельной работы обучающегося по отдельным разделам дисциплины. Каждый вопрос или задание заканчивается ссылкой на источник – см. раздел 7 программы (часто с указанием номеров страниц – «с.» или разделов- «р.»), где содержится необходимая для ответа информация. В ряде случаев приводится ссылка «инд.», обозначающая необходимость использования конспекта лекций или приведения индивидуального мнения обучающегося о поставленном вопросе или проблеме.

1.Дать определения наиболее важных метрологических характеристик ОЭП. – [1 – р.1.3]

2.Какие общие соображения и факторы необходимо учитывать при выборе оптической системы ОЭП для измерения перемещений объектов после проведения энергетического расчета ОЭП и выбора приемника излучения? – [1 – р.6.2]

3.Записать полную модель погрешности ОЭП и пояснить составляющие, входящие в эту модель. – [2 - р.551, 1 - с.13, р.6.4.3]

4.По заданной функции преобразования (статической характеристике) показать, как определяются составляющие инструментальной погрешности ОЭП. – [1 - с.16]

5.Объяснить методику определения допусков на параметры ОЭП, используя гипотезу о равном влиянии частных погрешностей на результат измерения. – [1 - р.6.4.3]

6.В чем суть способа коррекции допусков на параметры и характеристики ОЭП? – [1 - р.6.4.3, с.279]

7.Перечислить основные законы распределения вероятностей частных погрешностей, используемые при расчете точности ОЭП и представить соотношения между средней квадратической погрешностью и границами этих распределений. – [4 – р.3.3]

8.Как определить закон распределения результирующей инструментальной погрешности ОЭП? – [4 - р.3.3]

9.В чем различие между средней квадратической погрешностью и доверительной погрешностью ОЭП. Написать общие формулы для их определения. – [1 – р.6.4.3

10.Дать определение понятия "фотоприемное устройство" (ФПУ). - [2 - р.5.1, 5 - с.129]

11.Перечислить основные общие требования к ФПУ ОЭП. - [инд., 5 - р.7.1]

12.Написать формулу для определения порогового потока Фп ФПУ на основе следующих фотоприемников: а) фоторезистора; б) фотоэлемента; в) фотодиода, работающего в фотодиодном режиме, ФЭУ. - [2 - р.5.2, 1 -р.8]

13. Записать условия выбора оптимального сопротивления нагрузки Rн с целью получения максимального отношения сигнал/шум для ФПУ на основе:

а) фоторезистора и фотодиода в фотодиодном режиме его работы; б) фотоэлемента и ФЭУ. – [1 – с.с.348, 351, 360]

14.Нарисовать функциональную схему ФПУ с фотодиодом, включенным на вход операционного усилителя (ОУ) с отрицательной обратной связью. Каковы основные достоинства этой схемы? . – [1 – с.353]

15.Написать общую формулу для определения среднего квадратического напряжения шума на выходе ФПУ с фотодиодом, подключенным к ОУ. . – [1 – с.354]

16.От чего зависит постоянная времени τ ФПУ? Чем ограничивается максимальная частота модуляции в ФПУ на основе фотоэлементов? . – [3 – р.11.3, 1 – с.с. 353, 360]

17.Дать определения следующих параметров МПИ: квантовая эффективность, коэффициент преобразования, время накопления, пороговая чувствительность, порог насыщения элемента. . – [3 – р.1.3, 1 – р.8.6]

18.Вычислить тепловой шум ПЗС исходя из выходной емкости элемента

С = 1пФ при комнатной температуре. Какой способ используется для ослабления этого шума? В чем состоит его сущность? . – [1 – с.371]

19. Как уменьшить шум считывания сигнала с ПЗС? . – [3] – р.3.2, 14 – р.8.6]

20.Определить дробовый шум сигнала Nс, выраженного числом электронов в элементах ПЗС. Каков закон распределения вероятностей этого шума? . – [1 – с.371]

21.В чем заключается электронная обработка сигнала после МПИ? – [5 - р.10]

22.От чего зависит расфазировка модулирующих функций в обоих плечах амплитудного анализатора на осное светоделительного блока? – [1 - с.275]

23.Написать выражения для доминирующих частных погрешностей анализатора. – [1 – с.274]

24.Пояснить сущность способа определения допусков на первичные погрешности анализатора. – [1 – с.277]

25.Рассчитать номинальную функцию преобразования анализатора для следующих расфазировок Δφ = 0; 30′; 1° и т.п. – [1 - с.276]

26.Какие требования предъявляются к объективу ОЭП с амплитудно-фазовым анализатором в виде светоделительной призмы, если диапазон измерения углов не превосходит ± 0,5°? – [1 – с.279]

27.Сравните функции преобразования виброщелевых анализаторов изображения (АИ) с гармоническим сканированием и с постоянной скоростью сканирования. Перечислить основные частные погрешности этих АИ. От каких параметров они зависят? Напишите выражение для его результирующей погрешности. – [1 – р.7.3.3]

28.Как уменьшить влияние нелинейности функции преобразования на точность измерения этим АИ? – [1 – р.7.3.3]

29.От чего зависит чувствительность виброщелевого АИ? Как определить допуски на основные первичные погрешности этого АИ? – [1 – с.270]

30.Перечислите достоинства фазового АИ. Написать формулы для его основных частных погрешностей. – [1 – р.7.3.5]

31.Напишите формулы статических характеристик дискового и барабанного анализаторов. – [1 – с.282]

32.Как уменьшить частную погрешность фазовых АИ вследствие нелинейности функции преобразования? – [1 – с.282]

33.Какие анализаторы используются при импульсной модуляции? – [1 – с.285]

34.Перечислить частные погрешности импульсных АИ. – [1 – р.7.3.6]

35.Как вычислить частную систематическую погрешность при фиксации положения импульсов? – [1 – с.287]

36.В чем отличие систематической погрешности при фиксации положения импульсов от случайной погрешности? – [1 – р.7.3.6]

37.Почему при фиксации положения импульса по точкам перегиба отсутствует частная погрешность из-за нестабильности амплитуды и формы симметричного импульса? – [1 – с.286]

38.Пояснить принцип действия поляризационных анализаторов изображения: а) для измерения углов скручивания; б) для измерения коллимационных углов αх или αу. – [1 – р.7.3.7]

39.Написать формулы для потоков излучения, прошедших через обе половины составного анализатора в поляризационном измерителе углов αz скручивания. – [1 – с.290]

40.В чем состоит преимущество модуляторов Фарадея по сравнению с модулятором в виде полудиска при применении их в поляризационных измерителях углов? – [1 – с.292]

41.Нарисовать схему фазового поляризационного измерителя углов αz скручивания. Почему в нем изменение фазы φ выходного сигнала в два раза больше угла αz , т.е. φ = 2αz? – [4 – с.393]

42.Перечислить основные частные погрешности поляризационных угломеров. – [1 – р.7.3.7]

43.Пояснить принцип действия амплитудных волоконно-оптических анализаторов изображения для измерения линейных перемещений. – [1 – р.7.3.8]

44.Нарисовать схему, описывающую принцип действия волоконно-оптических импульсных датчиков распределения. – [инд.]

45.Записать функцию преобразования волоконно-оптического анализатора для измерения линейных величин. – [1 – с.297]

46.Перечислить типовые частные погрешности этих волоконно-оптических анализаторов. – [1 – р.7.3.8]

47.Перечислить основные частные погрешности анализаторов изображения на основе ПЗС и КМОП. – [1 – с.301]

48.Описать методику определения следующих частных погрешностей вследствие: а) геометрического аддитивного шума; б) геометрического мультипликативного шума; в) тепловых и дробовых шумов; г) шумов квантования АЦП; д) нелинейности энергетической характеристики. – [1 – р.7.3.9]

49.Записать формулы для определения координат энергетических центров тяжести изображения объекта ПЗС матрицей Хцт и Уцт. – [1 – с.301]

50.От чего в основном зависит частная погрешность вследствие пространственной дискретизации сигнала, осуществляемой многоэлементными приемниками излучения? – [1 – р.7.3.9]

51.Написать формулу, определяющую динамический диапазон ПЗС или КМОП. В каких единицах он приводится в справочных данных и на какие критерии качества ОЭП он влияет? – [1 – р.8.6]

52.Записать формулу для определения числа фотонов nф данной длины волны λ, попадающих на чувствительную площадку элемента многоэлементного приемника излучения от излучателя площадью Аизл в виде черного тела с температурой Т, находящегося на расстоянии l от входного зрачка объектива оптико-электронного прибора с диаметром D. – [1 – р.8.6]

53.Какова методика определения зависимости координаты энергетического центра изображения объекта от его перемещений по заданному распределению освещенности Е(х,у) изображения?. – [1 – р.7.3.9]

54.Каким образом можно уменьшить частную погрешность измерения координат объектов с помощью МПИ из-за неравномерности освещенности Е(х,у) изображения? – [1 – р.7.3.9]

55.В чем состоит сущность метода статистического моделирования Монте-Карло для оценки частных погрешностей измерения перемещений объектов с помощью ПЗС? – [1 – р.7.3.9]

56.Для чего используется биннинг при формировании сигналов с выхода МПИ? – [1 – р.7.3.9]

57.Каков характер распределения локальной чувствительности элементов ПЗС и КМОП. Какие факторы влияют на него? – [1 – р.7.3.9]

58.Написать приближенное уравнение теплового баланса ОЭП. Пояснить его составляющие. Какие задачи расчета тепловых режимов прибора и его отдельных узлов? – [1 – р.6.5]

59.Описать приближенные методики расчета отвода тепловых потоков от узлов ОЭП путем: а) теплопроводности; б) конвекции; в) теплового излучения. – [1 – р.6.5]

60.Описать методику графо-аналитического способа расчета тепловых режимов электронных блоков ОЭП. Какие исходные данные для проведения этого расчета? – [6 – р.6.5.3]

61.Что такое тепловое сопротивление элементов ОЭП, перепады их температуры, эквивалентная нагретая зона? – [6 – с.188]

62.Пояснить методику определения перепада температуры элементов, узлов ОЭП и отдельных областей внутри них по соответствующим тепловым сопротивлениям. – [6 – с.188]

63.Какие способы используются для обеспечения требуемых тепловых режимов: а) оптико-механических узлов; б) приемников излучения: в) электронных узлов и блоков. Кратко описать их. – [1 – р.10]

64.Объяснить принцип действия тепловых труб. – [1 – с.409]

65.Нарисовать эквивалентную тепловую схему для полупроводниковых элементов, установленных на радиаторе. – [1 – р.10.1.5]

66.Пояснить принцип составления уравнений для определения температуры Р-N-перехода в зависимости от соответствующих тепловых сопротивлений, окружающей температуры и параметров радиатора. – [1 – р.10.1.5]

67.В чем состоит особенность уравнения теплового баланса для ОЭП, расположенных на космическом аппарате. – [1 – с.411]

68.Записать энергетическое уравнение для выбора источника излучения фотоэлектрического автоколлиматора, если известны параметры объектива, приемника излучения и самого автоколлиматора. – [1 – р.6.1.7]

69.Нарисовать схему и пояснить принцип определения коэффициента пропускания потока излучения τв в автоколлиматоре, учитывающего его потери за счет виньетирования во входном зрачке отраженного осевого пучка лучей, при максимальном угле поворота αmax отражателя и известных значениях l, D и f . – [1 – р.6.1.7, 4 – р.10.25]

70.Как влияют на величину потерь потока излучения вследствие его виньетирования во входном зрачке автоколлиматора поперечные размеры марки? Пояснить на рисунке с соответствующими формулами. – [4 – р.10.2.5]

71.Какие доминирующие частные погрешности необходимо учитывать при расчете результирующей инструментальной погрешности автоколлиматора: а) фотоэлектрического; б) цифрового? – [4 – р.10.2.5]

72.Каковы основные задачи расчета предусилителей ФПУ на основе одноэлементных приемников излучения и исходные данные для его проведения? – [1 – р.8.7]

73.Исходя из каких параметров и соображений определяется минимальный сигнал на входе усилителя ОЭП и требуемый коэффициент усиления для ФПУ на основе одноэлементных приемников излучения? – [1 – р.8.7]

74.Рассчитать сигнал на входе усилителя ПЗС (или КМОП), если известны все его параметры и параметры излучателя в виде: а) черного тела; б) лазера или лазерного диода. – [1 - р.8.7]

75.Описать состав аппаратуры, используемой в Государственном эталоне угла. – [4 – р.12.1]

76.Пояснить принцип эталонирования и аттестации угловых мер и оптико-электронных угломеров (ОЭУ). – [4 – р.12.1]

77.Какие методы используются при аттестации ОЭУ, работающих в диапазоне малых углов? Перечислить их в порядке уменьшения погрешности аттестации. – [4 – р.12.2]

78.Чем принципиально отличаются косвенные методы поверок и аттестации ОЭУ от прямых методов? – [4 – р.12.2]

79.Привести следующие схемы установок для аттестации высокоточных ОЭУ с небольшим диапазоном измерения, построенные на основе: а) интерферометра; б) тангенсной линейки; в) поворотного отражателя; г) треугольной призмы, установленной на высокоточном лимбе. Записать выражение для оценки погрешности задания угла с помощью одной из этих установок. – [4 – р.12.2]

80.Выполнить анализ точности задания небольшого угла на установке с поступательно перемещаемым излучателем. – [4 – р.12.2]

81.Написать выражение для идеальной функции преобразования амплитудно-фазового анализатора в виде светоделительной призмы при равномерной освещенности изображения. От каких факторов зависит нелинейность этой функции? [1 - р.7.3.4]

82.Каким образом можно устранить зависимость крутизны статической характеристики амплитудного анализатора от изменения освещенности изображения? [2 - р.6.3, 1 -р.7.3.4]

83.Чем объясняется более высокая точность частотных и фазовых измерений, обеспечиваемых соответствующими анализаторами, по сравнению с точностью измерений, осуществляемых с помощью амплитудных анализаторов? [2 - р.6, 1 - р.7.3]

84.Как можно повысить крутизну статической характеристики амплитудного анализатора? Приведите схему. [2 - р.6.3, 1 - р.7.3.4]

85.Перечислите достоинства и недостатки растровых анализаторов изображения. [2 - р.8.5, 1 - р.7.3.1]

86.Приведите схему оптической системы с переносом изображения по растру, осуществляющей анализ и сканирование в пространстве объектов. [2 - р.6.5]

87.Приведите достоинства и недостатки время-импульсных анализаторов изображения, использующих растр и перенос изображения по этому растру. [2 - р.6.7, 1 – р.7.3.6]

88.Что может являться источником погрешностей анализаторов, использующих растр и перенос изображения по этому растру? [2 - р.6.4, 1 - р.7.3]

89.Приведите схему, где растр выполняет роль частотного анализатора. [2 - р.6.6]

90.Что является источниками погрешностей в виброщелевых анализаторах изображения? [2 - р.6.7, 1 - р.7.3.3]

91.Поясните принцип работы позиционно-чувствительного фотоприемника в качестве анализатора изображения. [2 -р.5.6, 3 -р.2.7]

92.Перечислите достоинства и недостатки анализаторов изображения на базе многоэлементных приемников излучения. [2 - р.5.9, 1 - р.7.3.9]

93.Что может являться источником погрешностей при использовании многоэлементного приемника излучения в качестве анализатора изображения? [2 - р.5.9, 1 - р.7.3.9]

94.Укажите достоинства и недостатки многоэлементного анализатора на основе приборов с зарядовой связью. [2 - р.5.9, 3 – р.3.2., 1 - р.7.3.9]

95.От чего зависит разрешающая способность МПИ? [5 – р.7, 1 – с.299]

96.Сравните между собою анализаторы изображения в виде ПЗС и КМОП. - [5 – р.7, 1 – р.8.6]

97.Какие способы коррекции используются для ослабления влияния на точность измерений временных и пространственных шумов МПИ? [5 – р.9.5, 1 – с.303]


^ 7.УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ И ИНФОРМАЦИОННОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ДИСЦИПЛИНЫ (МОДУЛЯ)


а) основная литература

1. Проектирование оптико-электронных приборов./Парвулюсов Ю.Б., Родионов С.А., Солдатов В.П. и др. Под общ. ред. Ю.Г.Якушенкова – М.: Логос, 2000. – 480 с.

2. Якушенков Ю.Г. Теория и расчет оптико-электронных приборов (учебник для вузов). Изд. 6-е, перераб. и доп.. – М.: Логос, 2011.- 568 с.

3. Ишанин Г.Г., Панков Э.Д., Челибанов В.П. Приемники излучения. –С.-Пб.: Папирус, 2003.-528 с.

б) дополнительная литература:

4. Высокоточные угловые измерения./ Д.А.Аникст, К.М.Константинович и др.; Под ред. Ю.Г.Якушенкова. – М.: Машиностроение, 1987.-480 с.

5. Тарасов В.В., Якушенков Ю.Г. Инфракрасные системы «смотрящего» типа. – М.: Логос, 2004.- 444с.

6. Проектирование оптико-электронных приборов./ Ю.Б. Парвулюсов,

В.П. Солдатов, Ю.Г.Якушенков; Под ред. Ю.Г. Якушенкова. –

М.:Машиностроение, 1990. – 432 с.

в) программное обеспечение и Интернет-ресурсы


^ 8.МАТЕРИАЛЬНО-ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ДИСЦИПЛИНЫ

Используется оборудование специализированной учебной лаборатории «Проектирование оптико-электронных приборов», опытные и серийно выпускаемые образцы оптико-электронных приборов, наборы слайдов.


Программа составлена в соответствии с требованиями ФГОС ВПО с учетом рекомендаций и ПрООП ВПО по направлению 200400.62 и профилю подготовки «Оптико-электронные информационно-измерительные и следящие приборы и системы» .

Авторы- проф., к.т.н. В.П.Солдатов и проф., д.т.н. Ю.Г.Якушенков

Рецензент(ы) – НУК РЛМ МГТУ им. Н.Э.Баумана

Программа одобрена на заседании кафедры оптико-электронных приборов МИИГАиК и методической комиссии факультета оптико-информационных систем и технологий МИИГАиК от 11.02.2011 г., протокол № 5.




Скачать 220,16 Kb.
оставить комментарий
Дата04.03.2012
Размер220,16 Kb.
ТипРабочая программа, Образовательные материалы
Добавить документ в свой блог или на сайт

Ваша оценка этого документа будет первой.
Ваша оценка:
Разместите кнопку на своём сайте или блоге:
rudocs.exdat.com

Загрузка...
База данных защищена авторским правом ©exdat 2000-2017
При копировании материала укажите ссылку
обратиться к администрации
Анализ
Справочники
Сценарии
Рефераты
Курсовые работы
Авторефераты
Программы
Методички
Документы
Понятия

опубликовать
Загрузка...
Документы

Рейтинг@Mail.ru
наверх